电子半导体图像法清洁度分析系统是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划，于2001年推向市场的成熟系统仪器；观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段；电子半导体图像法清洁

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Mastersizer 2000E 是在获奖产品 Mastersizer 2000 的基础上开发出来的，是一种经济实用的解决方案，为目前无需完整 Mastersizer 2000 规格，但希望在需要时能够升级的用户而提供。 

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产地：美国产品简介：1)CHDF3000是基于光散原理的仪器，使用新的技术对高分辨率的粒度分布(PSD)进行测量，包括高粒子检测灵敏度、动态范围、纳米粒子的优化分析；

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测量范围0.1-1250微米

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LAP-DW2000激光粒度仪是易仕特新的激光粒度仪之一，自上市以来赢得了广大客户的一致好评。LAP-DW2000采用国际先进的Mie氏散射原理和汇聚光傅立叶变换光路。高密度探头及全量程无缝衔接测试方法，保证了测试结果的准确性和重复性。

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Mastersizer 2000颗粒粒度分析仪树立了简单、直观的操作标准。 采用模块化设计，具有适合干、湿法样品测量的多种自动化样品分散装置。

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GSL系列激光粒度仪的所有操作全部在电脑控制下自动完成，操作简单方便，自动化程度高，测试准确等特点。

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JL-1177型全自动激光粒度仪，采用专门设计的由大规模集成电路工艺制造的大尺寸高灵敏度光电探测器阵列，蠕动循环泵进样方式，全程米氏理论和多种分布模型的数据处理方式，高精度的数据传输与处理电路等一系列先进的技术和制造工艺，是集激光技术、计算机技术、光电子技术

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本产品采用初效过滤器和高效过滤器对进入操作区的空气进行两级过滤，可使工作区域的洁净度达到 10 级。整体结构紧凑，外形美观，箱体全钢结构喷塑，操作台面采用不锈钢材质制造而成，经久耐用

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采用3.45寸全视角工业炫彩液晶屏，完美显示各项技术指标；可任意历史数据与查询，最大可实现10000组测试结果的存储，可配微型打印机打印所有监测数据；可实现过压保护、过充保护、短路保护、防静电干扰、防磁场干扰等功能；全中文/英文操作菜单，简单实用；国家级计量机

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